Põhimõte
Kristallograafia alus: elektronide tagasihajutatud difraktsiooni (EBSD) tehnika põhineb kristallitasandite Braggi difraktsiooniprintsiibil. Aatomid kristallis on korrapäraselt paigutatud. Kui elektronkiir kiiritab kristalli pinda, tekivad difraktsiooninähtused, kui Braggi seadus (kus on tasapindadevaheline kaugus, on difraktsiooninurk, on difraktsiooni järjekord ja on elektronkiire lainepikkus) on täidetud. Polükristalliliste materjalide nagu terase puhul on erinevatel teradel erinev kristallograafiline orientatsioon.
Orientatsioonikujutis: EBSD-süsteem saab määrata iga tera kristallograafilise orientatsiooni, võttes vastu need difraktsiooniga elektronid. Skaneerivas elektronmikroskoobis (SEM) skaneerib elektronkiir proovipinna punkt-punkti haaval ja saab igas skaneerimispunktis difraktsioonimustrid. Need difraktsioonimustrid sisaldavad teavet tera orientatsiooni kohta ja neid saab tarkvara abil töödelda, et kuvada tera orientatsiooni kujutisena, mida nimetatakse orientatsioonipildi kaardiks (OIM).
Terade suuruse mõõtmise alus: orientatsioonikujutise kaardi põhjal saab määrata tera piirid, eristades erineva orientatsiooniga teri. Kuna orientatsioon igas tera sees on põhimõtteliselt sama ja külgnevate terade vahel on orientatsiooni erinevus, saab terade piire tuvastada, määrates sobiva orientatsiooni erinevuse läve. Kui tera piirid on kindlaks määratud, saab tera suuruse arvutada. Näiteks saab tera suuruse iseloomustamiseks mõõta geomeetrilisi parameetreid, nagu tera ekvivalentne ringikujuline diameeter.

 

 

Seadme parameetrite seadistus
Kiirenduspinge seadistamine: skaneerivas elektronmikroskoobis seadistatakse sobiv kiirenduspinge vastavalt teraseproovi omadustele ja analüüsinõuetele. Üldiselt saab terase puhul kiirenduspinge seada vahemikus 15 - 30kV. Sobiv kiirenduspinge võib tagada, et elektronkiirel on piisavalt energiat, et tungida proovi pinnale ja tekitada selgeid difraktsioonimustreid.
Töökauguse reguleerimine: töökaugus viitab kaugusele elektronpüstolist proovipinnani ja seda reguleeritakse tavaliselt vahemikus 10 - 20 mm. Sobiv töökaugus võib võimaldada elektronkiirt hästi fokusseerida ja soodustada heade difraktsioonisignaalide vastuvõtmist.
Skaneerimisetapi valimine: skaneerimise samm on kahe kõrvuti asetseva skaneerimispunkti vaheline kaugus, kui elektronkiir skaneerib proovi pinda. Suurema tera suurusega terasproovide puhul saab skannimise sammu seada veidi suuremaks, näiteks {{0}}μm; väiksema tera suurusega proovide puhul tuleks skaneerimise samm määrata väiksemaks, näiteks 0.1 - 1μm, et tagada iga tera täpne tuvastamine.
Andmete hankimine
Proovi paigaldamine: Ettevalmistatud proov paigaldatakse skaneeriva elektronmikroskoobi proovialusele, tagades, et proov on kindlalt fikseeritud ja sellel on hea elektrijuhtivus.
Skaneerimise alustamine: skaneerimisprogramm käivitatakse ja elektronkiir skaneerib proovipinna punkthaaval vastavalt määratud skaneerimisetapile. Igas skaneerimispunktis võtab EBSD detektor vastu difraktsiooniga elektronid, teisendab need elektrilisteks signaalideks ning seejärel võimendab ja digiteerib need, et salvestada iga skaneerimispunkti difraktsioonimustri teave.

 

 

 

 

 

Meie pakutav spetsifikatsioon:

Paksus	{}mm
Laius	{}mm
Pikkus	{}mm

 

 

 

Andmete töötlemine ja analüüs
Mustri indekseerimine: kogutud difraktsioonimustri andmed tuleb kõigepealt mustriga indekseerida, st võrrelda neid teadaoleva kristallograafilise andmebaasi standardsete difraktsioonimustritega, et määrata igale skaneerimispunktile vastav kristallograafiline orientatsioon. See protsess viiakse lõpule spetsiaalse EBSD analüüsitarkvara kaudu. Tarkvara sobitab kõige tõenäolisema kristallograafilise orientatsiooni vastavalt difraktsioonilaikude asukohale ja intensiivsusele.
Terade rekonstrueerimine: lähtudes skaneerimispunktide orientatsiooniteabest ja seatud orientatsiooni erinevuse lävest (tavaliselt terase puhul on orientatsiooni erinevuse lävi määratud vahemikus 10 - 15 kraad ), kasutatakse tarkvara terade piiride tuvastamiseks ja jagamiseks. sama või sarnase orientatsiooniga skaneerimispunktid üheks teraks, rekonstrueerides nii tera kuju.
Terade suuruse arvutamine: pärast terade rekonstrueerimist saab tera suuruse arvutamiseks kasutada tarkvara tööriistu. Näiteks saab arvutada sellised parameetrid nagu iga tera pindala ja ümbermõõt ning seejärel arvutada ekvivalentse ringikujulise diameetri ja muud tera suurust iseloomustavad näitajad. Samal ajal saab läbi viia ka tera suuruse statistilist analüüsi, näiteks arvutada keskmise tera suuruse ja tera suurusjaotuse.

 

 

 

 

 

 

Oleme uhked oma võime üle pakkuda kohandatud lahendusi oma klientide ainulaadsetele vajadustele.
Analüüsime ja võrdleme oma BV EH36 terasplaadi varasemaid tooteid ja praegust tehnilist olukorda ning töötame välja uusi tehnilisi spetsifikatsioone ja protsesse.
Meie kliendid usaldavad meid, et tarnime kvaliteetseid külmvaltsitud terasest tooteid õigeaegselt ja eelarve piires.
Rakendame rangelt sooja ja läbimõeldud müügijärgset teenindust, järgime hea kutse-eetika arendamist.
Pakume laia valikut külmvaltsitud terasest tooteid, mis vastavad klientide erinevatele vajadustele.
Peame kinni kliendikesksest ja kaubamärgile orienteeritud ärifilosoofiast ning pakume jätkuvalt klientidele usaldusväärseid ja suurepäraseid tooteid ja teenuseid.
Meie tehas on pühendunud kõrgeimate ohutus- ja kvaliteedistandardite järgimisele.
Kõik meie ettevõtte töötajad ja kõik osakonnad töötavad koos, et ühendada ärijuhtimine, professionaalne tehnoloogia, kvantitatiivsed statistilised meetodid ja ideoloogiline haridus.
Meie külmvaltsitud terasest tooted on tuntud oma vastupidavuse ja töökindluse poolest.
Masstootmise parematele tingimustele ja tugevatele eelistele toetudes suudame rahuldada oma klientide erinevaid vajadusi.

Kuum tags: bv eh36 terasplaat, Hiina bv eh36 terasplaadi tarnijad, tehas